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方案介绍

碳化硅中阴阳离子的测定

碳化硅(SiC)又名金刚砂,是用石英砂、石油焦(或煤焦)、木屑等原料通过电阻炉高温冶炼而成。目前中国工业生产的碳化硅分为黑色碳化硅和绿色碳化硅两种,均为六方晶体。碳化硅有化学性能稳定、导热系数高、热膨胀系数小、耐磨性能好等特点,高纯度碳化硅可制造半导体和碳化硅纤维。碳化硅中的杂质阴阳离子会对其性能产生影响,需要进行检测以提高纯化技术。

色谱条件

(1)常规阴离子

分析柱:SH-G-1+SH-AC-11

流动相:10 mM KOH(EG)

流速:1.0 mL/min

柱温:45℃

抑制器:SHY-A-6

进样体积:25 μL

前处理:样品稀释适当倍数过 0.22 μm 一次性针头过滤器和银-钠柱进样分析。

1.png

碳化硅提取液中阴离子谱图

(2)阳离子

分析柱:SH-G-1+SH-CC-3L

流动相:5.5 mM 甲烷磺酸

流速:1.0 mL/min

柱温:35℃

抑制器:SHY-C-3

进样体积:25 μL

前处理:样品稀释适当倍数过 0.22 μm 一次性针头过滤器进样分析。

2.png

碳化硅提取液中阳离子谱图

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